IC驱动控制器：VCC供电单元的PCB及关键设计

本文摘要：我们告诉对于开关电源系统外部的雷电不会对电子产品及设备产生故障；甚至系统的损毁！而对雷电的瞬态阻碍我们使用的是仿真测试手段展开测试评估；测试方法如下：留意：Surge于是以，胜积累的效应造成IC内部电路受到阻碍动作！差模 阻碍（EMS）对设备不会产生威胁，经常出现产品功能及性能的问题！展开共模测试时共模阻碍不直接影响设备，而是通过转化成为差模电压来影响设备的！共模阻碍（EMS）对设备不会产生威胁，经常出现产品功能及性能的问题！理论如下：通 过理论：系统的共模电感及Y电容的滤

我们告诉对于开关电源系统外部的雷电不会对电子产品及设备产生故障；甚至系统的损毁！而对雷电的瞬态阻碍我们使用的是仿真测试手段展开测试评估；测试方法如下：留意：Surge于是以，胜积累的效应造成IC内部电路受到阻碍动作！差模

阻碍（EMS）对设备不会产生威胁，经常出现产品功能及性能的问题！展开共模测试时共模阻碍不直接影响设备，而是通过转化成为差模电压来影响设备的！共模阻碍（EMS）对设备不会产生威胁，经常出现产品功能及性能的问题！理论如下：通

过理论：系统的共模电感及Y电容的滤波措施是最必要的方法；共模电感的应用于不会减少系统成本；使用PCB差分信号最较短平面的路径及最佳电路面积路径从而使上图中的Z1的电阻近似于相等Z2的电阻；系统也会经常出现产品故障及器件损
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